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            1. 021-58211083
              PRODUCTS CENTER

              產(chǎn)品中心

              當(dāng)前位置:首頁(yè)產(chǎn)品中心zeta電位儀Zeta100電位納米粒度分子量分析儀
              Zeta100電位納米粒度分子量分析儀

              產(chǎn)品簡(jiǎn)介

              Zeta100是丹東百特儀器有限公司研發(fā)的一款集zeta電位、納米粒度分布、分子量測(cè)量三個(gè)功能于一體的表征納米顆粒尺寸及穩(wěn)定性的儀器。

              Zeta電位測(cè)量采用電泳光散射(ELS)原理,通過(guò)測(cè)量顆粒在電場(chǎng)中的運(yùn)動(dòng)速度進(jìn)而得到zeta電位。一般來(lái)說(shuō),zeta電位越高,顆粒之間相互排斥越劇烈,分散體系越穩(wěn)定。納米粒度分布采用動(dòng)態(tài)光散射(DLS)原理,顆粒在懸浮液中進(jìn)行布朗運(yùn)動(dòng),較小

              產(chǎn)品型號(hào):
              更新時(shí)間:2025-06-27
              廠商性質(zhì):生產(chǎn)廠家
              訪問(wèn)量:8554
              詳細(xì)介紹在線留言
              • Zeta電位測(cè)試

              測(cè)試范圍

              -500mv ~ 500mv

              粒度范圍

              1nm-9500nm(與樣品有關(guān))

              樣品池容積

              400μl

              測(cè)試原理

              ELS(電泳光散射)

              散射角

              15 度

               大濃度

               40% w/v

              相關(guān)器

              1000通道線性相關(guān)器

              電導(dǎo)率范圍

              200 mS/cm
              • 粒度分布測(cè)試

              粒度測(cè)試范圍

              1-9500nm(與樣品有關(guān))

              測(cè)試原理

              DLS( 動(dòng)態(tài)光散射)

              重復(fù)性誤差

              1%(國(guó)標(biāo)樣D50 偏差)

              相關(guān)器

              1000 個(gè)物理通道

              準(zhǔn)確性誤差

              1%(國(guó)標(biāo)樣D50 偏差)

              光源

              固體激光器

              樣品池容積

              1ml / 4ml

              激光器波長(zhǎng)

              671nm

              樣品池溫控范圍

              1590

              激光器功率

              50mW

              溫控精度

              ±0.2

              散射角

              90 

              • 分子量測(cè)試 

              分子量范圍

              1000Da2x107Da

              準(zhǔn)確性誤差

               10%

              測(cè)試原理

              SLS(靜態(tài)光散射)

              重復(fù)性誤差

               5%

              三、主要應(yīng)用領(lǐng)域

                      包括納米金屬氧化物、水處理、納米金屬粉、納米陶瓷材料、蛋白質(zhì)、聚合物膠乳、藥物制備、水油乳液 、油漆、涂料、顏料 、油墨、調(diào)色劑 、化妝品以及其它所有納米材料研究、納米材料制備與納米材料應(yīng)用等領(lǐng)域。

              四、突出特點(diǎn)

              • BT-Zeta100電位測(cè)量采用電泳光散射(ELS)原理,通過(guò)測(cè)量顆粒在電場(chǎng)中的運(yùn)動(dòng)速度進(jìn)而得到zeta電位。一般來(lái)說(shuō),zeta電位越高,顆粒之間相互排斥越劇烈,分散體系越穩(wěn)定。
              • 納米粒度分布測(cè)量采用動(dòng)態(tài)光散射(DLS)原理,顆粒在懸浮液中進(jìn)行布朗運(yùn)動(dòng),較小顆粒的移動(dòng)速度快于較大顆粒,在某個(gè)角度檢測(cè)記錄散射光強(qiáng),散射光強(qiáng)的相關(guān)曲線體現(xiàn)了顆粒的移動(dòng)速度,利用這些信息可以計(jì)算顆粒的粒度分布。
              • 分子量測(cè)量采用靜態(tài)光散射(SLS)原理,散射光的強(qiáng)度與分子量直接相關(guān)。測(cè)量不同濃度中測(cè)量散射光強(qiáng),繪制德拜曲線即可得到樣品分子量。

              五、良好的重復(fù)性

              • 穩(wěn)定的折疊光路系統(tǒng)
              • 高速數(shù)據(jù)采集與轉(zhuǎn)換模塊
              • 高精度樣品池定位組件

              六、良好的準(zhǔn)確性

              • 粒度測(cè)試準(zhǔn)確性:用100nm 標(biāo)準(zhǔn)樣品測(cè)試,結(jié)果為101nm,誤差范圍為1%,遠(yuǎn)遠(yuǎn)小于標(biāo)準(zhǔn)ISO13321 允許誤差10% 的要求。
              • Zeta 電位測(cè)試準(zhǔn)確性:用-55mv 標(biāo)準(zhǔn)樣品測(cè)試,結(jié)果為-59.7994mv,誤差范圍為8.7%,小于標(biāo)準(zhǔn)ISO13099 允許誤差10% 的要求。
              • 分子量測(cè)試
               

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